题目内容
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[单选题]
提高近表面缺陷的探测能力的方法是（)
A.用TR探头
B.使用窄脉冲宽频带探头
C.提高探头频率，减小晶片尺寸
D.以上都是
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A.用TR探头
B.使用窄脉冲宽频带探头
C.提高探头频率，减小晶片尺寸
D.以上都是
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A.为了提高探伤能力，一般均采用直流电
B.当磁极与探测面接触不良时，在磁极周围不能探伤的盲区就小
C.磁化力一定时，探伤能力受磁极间距的影响
D.用来检测与磁极连线平行的缺陷
A.由于涡流的趋肤效应,距表面较深的缺陷难以查出
B.影响涡流的因素较多,如材质的变化、传送装置的振动等,因此必须采取措施将干扰信号制掉,才能正确地显示缺陷
C.要准确判断缺陷的种类。形状和大小比较困难,需作模拟试验或作标准试块予以对比
D.涡流对形状复杂零件存在边界效应,探测比较困难
E.涡流对形状复杂零件不存在边界效应,故探测比较方便
