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双晶探头用于探测工件近表面缺陷。()

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第1题
双晶探头用于探测工件()缺陷。
双晶探头用于探测工件()缺陷。

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第2题
双晶探头主要用于近表面缺陷和薄件的检测。()
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第3题
提高近表面缺陷的探测能力的方法是()

A.用TR探头

B.使用窄脉冲宽频带探头

C.提高探头频率,减小晶片尺寸

D.以上都是

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第4题
板厚100mm以上窄间隙焊缝的超声检验中,为探测边缘未熔合缺陷,最有效的扫查方式是()

A.斜平行扫查

B.串列扫查

C.双晶斜探头前后扫查

D.交叉扫查

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第5题
双晶直探头倾角越大,交点离探测面距离愈远,覆盖区愈大。()
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第6题
磁粉探伤方法只能探测试件表面的开口缺陷,而不能探测近表面缺陷。()
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第7题
直探头只能发射和接受纵波,波束轴线垂直于探测面、主要用于探测与探测面______的缺陷。

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第8题
用双晶直探头对平面工件探伤时,最好的操作方法是使隔声层()于探头扫查方向。
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第9题
检验近表面缺陷最有效的方法是采用()探头。
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第10题
某钢棒直径Φ180mm(CL=5900m£¯s),欲用底波方式法调整起始灵敏度探伤,要求能发现Φ2mm平底孔当量及以上的缺陷,可考虑采用下述哪种探头较适宜?()

A.5MHz10x2,焦距30mm双晶直探头

B.2.5MHzΦ14mm直探头

C.2.5MHzΦ20mm直探头

D.2.5MHz8x10mm,60°斜探头

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第11题
用直探头探测同一缺陷,探头直径增大时,缺陷波增高,但底波高度不变。()
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