题目内容
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[主观题]
微电子领域内，下列测厚仪中属于有台阶的测厚仪为()。
微电子领域内，下列测厚仪中属于有台阶的测厚仪为（)。
A.台阶仪
B.干涉显微镜
C.光切显微镜
D.扫描电镜
E.椭偏仪
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A.作品必须是作者智力创作的精神产品
B.只要属于文学、艺术和科学领域内以一定形式体现的智力产品就是作品
C.工业、农业、商业或技术领域的其他智力创造成果也可能属于著作权的保护范围
D.作品是作品形式与内容相结合的产物
E.自然界的美丽风景是大自然的作品，可以为著作权法所保护
A.摘要的位置在标题、关键词和作者之下，正文之上
B.内容要高度浓缩，不能重复标题中已有的信息
C.要采用报道性文体，可以在摘要中罗列必要的公式、图表
D.要排除在本专业领域内已成常识性或属于科普知识的内容
A.5、3、-25μm
B.5、5、-50μm
C.5、3、-50μm
D.5、5、-25μm
A.主要受力杆件的截面受力部位壁厚实测值不得小于1.5mm
B.涂层测厚仪测膜厚,每个杆件在装饰面不同部位的测点不应少于5个，同-测点应测量5次,取平均值
C.用韦氏硬度计测铝型材表面硬度,测点不应少于3个,取平均值
D.阳极氧化膜最小平均膜厚不应小于15μm,最小局部膜厚不应小于12μm
