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第2题
以下关于杂质的描述正确的是()。
A、半导体中的杂质会局部的破坏晶格的周期性势场，引起载流子的散射
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B、电离的杂质会引起载流子的散射，从而影响载流子的迁移率
C、中性杂质不会对半导体产生影响
D、如果半导体中同时掺入施主杂质和受主杂质，由于所有的杂质都会破坏晶格周期性势场，所以对载流子迁移率的影响是两种杂质浓度之和
E、如果半导体中同时掺入施主杂质和受主杂质，由于杂质的补偿作用，对载流子浓度的影响是两种杂质浓度之差
F、如果半导体中同时掺入施主杂质和受主杂质，而且施主杂质浓度等于受主杂质浓度，由于杂质的补偿作用，该半导体材料属于本征半导体
G、杂质会在半导体的禁带中引入能级
H、如果杂质能级较浅，则杂质易于电离，可为半导体提供导电的载流子或改变半导体的导电类型，如掺入硅中的磷
I、如果杂质能级较深，则杂质不易于电离，可能形成复合中心或陷阱中心
J、如果杂质能级(深能级)的位置在EF附近，该杂质可有效促进载流子的复合，缩短非平衡载流子的寿命，起复合中心的作用，如掺入硅中的金
K、如果杂质能级(深能级)的位置在Ei附近，该杂质可暂时收容非平衡载流子，延长了非平衡载流子的寿命，起陷阱中心的作用
第7题
波谱仪(WDS)、能谱仪(EDS)和X光荧光(XRF)光谱仪是否可以查明钻石样品中的碳和氮含量()和合成钻石中镍的含量()。
波谱仪（WDS)、能谱仪（EDS)和X光荧光（XRF)光谱仪是否可以查明钻石样品中的碳和氮含量（)和合成钻石中镍的含量（)。
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第8题
同为碳元素组成的钻石与石墨的密度分别为（)g£¯cm3，这与其各自晶体结构紧密程度有关。
A.3.22与2.23
B.3.52与2.23
C.2.23与3.52
D.3.52与3.22
