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上芯生产加工过程中已加工芯片只要发现背崩,该芯片报废。()

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第1题
上芯MAP产品加工过程中,如单片加工完后发现实际芯片数量与来料数不符,则开具NCL单反馈,其他产品可以继续加工。()
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第2题
关于双芯片上芯产品的上芯控制要求,以下哪些说法是正确的()

A.双芯片上芯产品,一次上芯应先加工导电胶粘片的产品

B.一次上芯后,应进行烘烤后,方可进行二次上芯

C.二次上芯产品烘烤后,可以放置在生产现场的货架上,不必要放在氮气柜中

D.双芯片上芯产品,应优先粘MOS芯片

E.DIP双芯片产品,如发现MOS芯片使用DAD系列粘片胶的,应立即停机反馈

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第3题
上芯后兰膜检查项目有()。

A.顶针孔位置是否位于芯片中心

B.顶针孔是否有顶破兰膜,造成兰膜缺损

C.多顶针系统顶针印痕迹轻重程度是否一致

D.兰膜上是否有硅渣及背崩残留

E.背金属晶圆是否有背金属脱落现象

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第4题
上芯后兰膜检查项目有哪些()。

A.顶针孔位置是否位于芯片中心

B.多顶针系统顶针印痕迹轻重程度是否一致

C.顶针孔是否有顶破兰膜,造成兰膜缺损

D.兰膜上是否有硅渣及背崩残留

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第5题
关于双芯片上芯产品的上芯控制要求,以下()说法是正确的。

A.双芯片上芯产品,一次上芯应先加工导电胶粘片的产品

B.一次上芯后,应进行烘烤后,方可进行二次上芯

C.二次上芯产品烘烤后,可以放置在生产现场的货架上,不必要放在氮气柜中

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第6题
双芯片产品上芯时应优先加工导电胶产品。()
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第7题
上芯发现产品卡料后,如非A类客户,可以将卡料产品取出后,反馈生产组长排除异常继续加工。()
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第8题
工件上已加工表面与待加工表面之间的距离叫背吃刀量。()
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第9题
铣削加工中工件上已加工表面与待加工表面之间的垂直距离称为()。

A.进给量

B.背吃刀量

C.铣削量

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第10题
在加工脆性材料时,背吃刀量较大,刀具前角较小时,会产生()。

A.带状切屑

B.挤裂切屑

C.崩碎切屑

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