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第4题
在测量显微镜下，推晶完的芯片，对于每种尺寸的bump,在（)下选择3个锡残留尺寸最小的，在（)及以上的镜头下测量其残留痕迹的最小尺寸。
A.0-45X
B.50-100X
C.200X
D.500X
第5题
《金属材料室温拉伸试验方法》GB/T228—2002标准中试样原始横截面积测量装置的分辨率为：试样横截面积>10mm时，分辨率为()。
A.0.01mm;
B.0.02mm;
C.0.1mm;
D.0.05mm。
第6题
当用间隔为0.01塞尺测量某间隙时，用0.05mm的一片能插入，而0.06mm的一片不能插入，则此间隙为（)。
A.0.05mm
B.0.06mm
C.0.05～0.06mm
D.0.11mm
第8题
为确定目镜测微尺刻度的尺寸，当物镜测微尺每一小刻度代表0.01mm（10μm)，同时将显微镜的目镜和物镜的零刻度线对齐后，在刻度尺上另一个对齐的位置是物镜的12和目镜的46，则目镜测微尺每一格的实际尺寸为______。
A.2.17μm
B.2.61μm
C.2.82μm
D.2.98μm
第9题
变速器中滚动轴承与轴锁的一般配合间隙为0.02£0.01mm。大修允许（),使用限度为0.30mm。
A.0.02-0.25
B.0.02-0.13
C.0.02-0.25
D.0.05-0.10
第10题
德国蔡司(ZEISS)公司的DiNi12,第三代电子水准仪,采用吊带式补偿方式，读数、存储、处理均可自动完成，操作更加快捷、方便、直观精度更加精确可靠。往返观测精度为 0.3mm/km，最小读数显示为0.01mm，测距范围为1.5~100m，精度为0.5Dx0.001m。每一测段结束后，如闭合差符合精度要求应进行平差，闭合差在()以内可不进行平差。
A.≤±1mm
B.≤±2mm
C.≤±3mm
D.≤±5mm
